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激光微區原位同位素分析與定年系統
產品時間：2020-05-26
RESOlution 激光微區原位同位素分析與定年系統采用排氣閥導流不需要的燒蝕材料，以減少對ICP的保養，如更少量的錐體清洗，系統能夠更準確和更高性價比地測得熱年代學年齡和地質年代學年齡，每臺設備標配一個可裝載43個錐形樣品的支架和一個多尺寸平底樣品支架
RESOlution 激光微區原位同位素分析與定年系統采(cai)用(yong)排(pai)氣(qi)閥導流(liu)不需(xu)要(yao)的(de)燒蝕材料，以減少對ICP的(de)保養，如更(geng)(geng)少量的(de)錐體清洗，系統能夠更(geng)(geng)準確和(he)(he)更(geng)(geng)高性價(jia)比地測得熱年代學年齡(ling)和(he)(he)地質年代學年齡(ling)，每臺(tai)設備標配一個(ge)可裝載43個(ge)錐形(xing)樣(yang)(yang)品(pin)的(de)支(zhi)架(jia)(jia)(jia)和(he)(he)一個(ge)多(duo)尺(chi)寸平(ping)底樣(yang)(yang)品(pin)支(zhi)架(jia)(jia)(jia)。同時可選購多(duo)個(ge)樣(yang)(yang)品(pin)支(zhi)架(jia)(jia)(jia)或(huo)根據要(yao)求定制(zhi)支(zhi)架(jia)(jia)(jia)樣(yang)(yang)式，用(yong)于(yu)批量分(fen)析(xi)靈敏度以及精細表面(mian)和(he)(he)薄膜樣(yang)(yang)品(pin)的(de)分(fen)析(xi)，旋轉(zhuan)矩形(xing)狹縫，用(yong)于(yu)帶狀樣(yang)(yang)品(pin)的(de)動態高分(fen)辨率追蹤。
產品優勢：
1、可以同時裝載薄片和圓形樣品靶的組合支架也供選擇；
2、*的結構化界面對于用戶來說簡單易學；
3、分布”功能，自動將標樣分布于待測樣品序列中；
4、快速沖洗時間，以及（可選的）信號平滑處理；
5、有離線分析點選取功能的軟件，提高儀器使用效率；
6、質量流量控制器（MFC）的系統，提高了靈敏度；
7、全集成(cheng)化(hua)支持遠程(cheng)控制和遠程(cheng)工作(zuo)站選(xuan)項(xiang)的系統(tong)。
技術參數：
激光剝蝕樣品池 | S155 | |
RESOlution型號 | RESOlution-SE | RESOlution- LR |
激光安全(quan) | 符合 FDA / CDRH 21 CFR，I類激光(guang)系統，激光(guang)*聯鎖，*封閉光(guang)束(shu)路徑。 | |
激光(guang)波長 | 193 nm | |
激光脈沖寬度 | 5 - 7 ns | 20 ns |
內部能量(liang)計(ji) | 是（閉(bi)環(huan)反饋） | |
*大脈沖能量(liang) | 12 mJ | 200 mJ |
平均(jun)功(gong)率 | 1.5 W | 4 W |
脈沖(chong)能量穩定性 | < 2 % RSD | < 1 % RSD |
重復頻率 | 300 Hz | 20 Hz |
激光器冷卻(que)方式 | 風冷 | 風冷 |
能(neng)量(liang)密度 | >20 J/cm2 | 30 J/cm2 |
圓形/方(fang)形斑束尺寸 | 2–300 μm* (*可選配激光斑束(shu)擴(kuo)展器) | 2–380 μm |
矩形斑束尺寸 | 長度: 2–300 μm* 寬度: 2–300 μm* (*可選(xuan)配激光斑束(shu)擴(kuo)展器) | 長度: 2–380 µm 寬(kuan)度(du): 2–380 µm |
樣品臺移(yi)動范圍(wei) | 155 x 105 mm | |
樣品臺位置(zhi)再現性(xing) | < 3 μm 2 sigma | |
重量 | 750 kg (1600 lbs.) | 1240 kg (2740 lbs.) |
寬度 | 119 cm (47”) | 179 cm (71”) |
深度 | 89 cm (35”) | 89 cm (35”) |
高度 | 195 cm (77”) | 172 cm (68”) |
RESOlution 激光微區原位同位素分析與定年系統豐富的(de)(de)樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin)圖像和(he)自動(dong)馬(ma)賽(sai)克收集(ji)將確(que)保(bao)您始終選(xuan)擇正確(que)的(de)(de)顆 粒、相位或生長環帶(dai)進行(xing)(xing)剝蝕，低溫樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin)支(zhi)架(jia)(jia)將很快應用在S155樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin)池上，S155樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin)池附帶(dai)三(san)個(ge)樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin)支(zhi)架(jia)(jia)，這三(san)個(ge)支(zhi)架(jia)(jia)可以從通用支(zhi)架(jia)(jia)，全薄(bo)片(pian)(pian)支(zhi)架(jia)(jia)，全圓形(xing)樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin)靶支(zhi)架(jia)(jia)以及(ji)薄(bo)片(pian)(pian)和(he)圓形(xing)樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin)靶組合支(zhi)架(jia)(jia)中(zhong)根據需要選(xuan)擇，使(shi)用電動(dong)離軸觀察系(xi)統和(he)高分(fen)辨(bian)率相機對樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin)池中(zhong)的(de)(de)樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)(pin)進行(xing)(xing)成像，所有這些操(cao)作都通過GeoStar軟件輕松控制。